美國GE超聲波接觸式探傷儀探頭B2S

美國GE超聲波接觸式探傷儀探頭B2S

歐款有可更換膜:在不平整和曲面上增進耦合-延長探頭壽命-適于DGS缺陷評定-可連接高溫延遲塊- Lemo1(B. SI或Lemo 00 (M..SI連接端口.標準為側裝頂裝可選●美款有三種類型的保護:-膜可以在不平整和曲面上增進耦合.-耐磨帽定期更換可延長探頭壽命-高溫延遲塊可以實現400° F (200° C]表面檢測.- BNC連接端口.頂裝或側裝

歐款有可更換膜:在不平整和曲面上增進耦合-延長探頭壽命-適于DGS缺陷評定-可連接高溫延遲塊- Lemo1(B. SI或Lemo 00 (M..SI連接端口.標準為側裝頂裝可選●美款有三種類型的保護:-膜可以在不平整和曲面上增進耦合.-耐磨帽定期更換可延長探頭壽命-高溫延遲塊可以實現400° F (200° C]表面檢測.- BNC連接端口.頂裝或側裝

歐款有可更換膜:在不平整和曲面上增進耦合-延長探頭壽命-適于DGS缺陷評定-可連接高溫延遲塊- Lemo1(B. SI或Lemo 00 (M..SI連接端口.標準為側裝頂裝可選●美款有三種類型的保護:-膜可以在不平整和曲面上增進耦合.-耐磨帽定期更換可延長探頭壽命-高溫延遲塊可以實現400° F (200° C]表面檢測.- BNC連接端口.頂裝或側裝